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實(shí)驗(yàn)室電子產(chǎn)品

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Filmetrics F20單點(diǎn)薄膜透明膜厚度測(cè)量?jī)x
Filmetrics F20單點(diǎn)薄膜透明膜厚度測(cè)量?jī)x可以在數(shù)秒內(nèi)得到測(cè)量結(jié)果。基于模塊化設(shè)計(jì)的特點(diǎn)，F(xiàn)ilmetrics F20 膜厚測(cè)量?jī)x適用于各種應(yīng)用。

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膜厚測(cè)量?jī)x（厚度范圍1nm~10mm）
膜厚測(cè)量?jī)x（厚度范圍1nm~10mm），只需單擊鼠標(biāo)即可測(cè)量 1nm 至 10mm 的薄膜厚度。幾乎可以測(cè)量任何材料，直觀的設(shè)計(jì)意味著您可以在幾分鐘內(nèi)進(jìn)行一次薄膜厚度測(cè)量！

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薄層方塊電阻測(cè)量?jī)x-非接觸式
薄層方塊電阻測(cè)量?jī)x-非接觸式：昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層方塊電阻測(cè)量的非接觸式薄膜四方針?lè)綁K電阻方阻測(cè)量?jī)xEddyCus TF Series，這款非接觸式薄膜四方針?lè)綁K電阻方阻測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜和金屬方塊電阻精確測(cè)量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。可用于方塊電阻，方阻測(cè)量，四探針測(cè)試，四探針?lè)阶铚y(cè)量。

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非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)x
昊量光電新推出用于導(dǎo)電薄膜和薄金屬層膜厚測(cè)量的非接觸式金屬膜厚測(cè)量?jī)xEddyCus TF Series，這款金屬膜厚測(cè)量?jī)x可以非接觸式實(shí)時(shí)測(cè)量，對(duì)導(dǎo)電薄膜的膜厚精確測(cè)量，表征已被隱藏和封裝的導(dǎo)電層，并把測(cè)量數(shù)據(jù)保存和導(dǎo)出。

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MProbe系列膜厚測(cè)量?jī)x（測(cè)量厚度1nm~1.8mm）
膜厚測(cè)量?jī)x（測(cè)量厚度1nm~1.8mm）美國(guó)Semisonsoft公司MProbe系列薄膜測(cè)厚儀測(cè)量厚度可以低至1nm，厚至1.8mm，埃級(jí)分辨率，非接觸式無(wú)損快速測(cè)量。廣泛應(yīng)用在各種生產(chǎn)或研究中，比如測(cè)量薄膜太陽(yáng)能電池的CIGS層，觸摸屏中的ITO層等。大部分透光或弱吸收的薄膜均可以快速且穩(wěn)定的被測(cè)量。

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