全自動高精度共聚焦拉曼系統 AutoRam C

     AutoRam C 系列支持多達三種可見激光（450、532、633 nm），是一款快速、準確且易分析易使用的全自動共焦拉曼系統。該系統采用 SMART™ Mapping 技術，實現激光控制、光學濾光片切換、光柵調整和自動對焦的全面自動化，從而提升效率和重復性。該系統支持原位光電流測量和電池循環測試，并可與Nanophotocurrent和Nanospectrum軟件無縫集成，實現實時結構和電學分析。AutoRAM-C系列適用于材料科學、半導體及能源研究領域，可在緊湊型智能平臺上提供高性能拉曼光譜分析。

為什么共聚焦低波數拉曼成像系統Auto Ram C 系列是您下一臺拉曼儀器的性價比.

以速度與精度革新拉曼掃描——- 振鏡技術

? 技術概述

   振鏡掃描技術采用響應速度極快的電流計式反射鏡，實現激光束在樣本上的快速偏轉。與傳統的機械載物臺掃描（即移動樣本本身）不同，該技術能在微秒級時間內改變光束方向，從而實現無接觸、無振動的掃描，且精度可達亞微米級別。

參數說明

振鏡的關鍵優勢

振鏡掃描技術

Galvo 鏡像掃描是拉曼測繪的核心技術，能夠實現超快速、精確和局部測量。在 Nanobase 智能™測繪平臺中，該技術與電動載物臺移動集成，形成一個混合系統 —— 將 Galvo 掃描的高速敏捷性與載物臺測繪的廣域覆蓋相結合。結果是在一個平臺上實現速度、靈活性和精度。

拉曼的逐層分析技術

技術概述

   在 Nanobase，我們憑借專有的 Slit-Binning（狹縫合并）技術，重新定義了拉曼信號的捕獲方式 —— 這是一項強大的信號處理增強技術，能在不損失分辨率的前提下，顯著提升靈敏度和數據質量。

   傳統的 ccd 合并方法往往會犧牲信號完整性或空間分辨率。而我們的 Slit-Binning 技術則通過智能整合探測器上僅有的有效狹縫區域，消除背景噪聲并優化信噪比（SNR）。即便面對極弱的拉曼信號，該技術也能生成更清晰、更銳利的光譜。

Z 軸輪廓分析能力

   我們的 Slit-Binning 共聚焦設計不僅比傳統針孔共聚焦系統更易于維護，還能實現精確的 Z 軸輪廓分析，可進行詳細的深度分析和逐層測量，且重復性高。光學、機械與設計方面的創新相結合，確保了穩定可靠的拉曼性能。

應用示例：多層薄膜分析（PET/PE/EVOH/PE）Z 步長：0.3μm / 曝光時間：1 秒 / 深度范圍：0-60μm EVOH 的峰值約為 1061 cm-1，PET 的峰值約為 1617 cm-1。

拉曼 Mapping 實時自動對焦功能

技術概述

  Live-Focus 是 Nanobase的實時激光自動對焦功能，由其專屬的激光自動對焦模塊提供技術支持。這一智能系統在掃描過程中會持續追蹤并自動調整激光的焦點，即便面對傾斜、不平整或有結構化的表面，也能確保始終處于對焦狀態。

• 測量性能可能會受到所用激光功率的限制。

• 對于表面反射率低的樣品，或因表面粗糙而產生漫反射的樣品，其性能可能會受到限制。

實時對焦應用實例

拉曼智能  Mapping

技術概述

   Nanobase 拉曼系統提供三種不同的掃描模式，每種模式都針對特定的分析需求和空間分辨率進行了優化。從快速表面檢測到高分辨率映射，這些模式使研究人員能夠在不影響數據質量的情況下調整他們的測量策略。

• 我們系統的核心是一種混合掃描機制，它結合了用于快速光束轉向的 Galvo 和用于精確移動的電動載物臺。

• Galvo 鏡面可實現快速光斑切換和高速掃描，而電動載物臺可提供精確定位和大面積測繪。

• 這種雙重方法與內置自動對焦一起確保了整個測量范圍內的清晰對焦和清晰成像。

適應任何樣品尺寸或分辨率

   從微結構的亞微米空間分辨率到大面積樣品，Nanobase 系統無縫適應各種研究場景。無論您是執行快速評估還是進行深入的表面分析，您都可以微調掃描策略以滿足您的分析目標。

純拉曼信號的傳輸 VPH 光柵

技術概述

    Nanobase 拉曼光譜儀的核心是透射體相位全息（VPH）光柵，這是一種關鍵的光學元件，能夠以蕞小的噪聲實現靈敏度。與傳統的反射光柵不同，透射 VPH 光柵通

過全息記錄的體相位結構來分散光。這種獨特的設計提供了幾個優勢：

- 高衍射效率：極大限度地提高信號吞吐量，確保即使是蕞微弱的拉曼信號也能得到保留。

- 低雜散光：減少不需要的背景光，提高光譜對比度和信噪比（SNR）。

- 蕞小重影：提供更干凈的光譜，沒有反射光柵設計中經常出現的偽影。

- 緊湊的光學路徑：允許更穩定的對齊和減少光學像差

可更換光柵的光譜儀

我們的光譜儀還可以輕松更換具有不同凹槽密度（lpmm）的光柵。這種靈活性使用戶能夠針對特定應用優化光譜分辨率和波長范圍 —— 無論是優先考慮細節還是更廣泛的覆蓋范圍。

光譜儀（XPE35 VS XPE50C）的性能比較

應用領域

石墨烯，二維材料，生物樣本，半導體工業，碳納米管，碳材料，太陽能電池，儲能材料，納米纖維分布，探測器光電性能檢測，晶圓體分析，制藥分析，納米材料檢測，生物細胞成像，微塑料檢測，金剛石微粉檢測

應用案例

泰諾藥片拉曼譜圖

二硫化鉬光學圖和拉曼成像圖

二硫化鎢光學圖和拉曼譜圖和拉曼成像圖

顯微鏡下的光學圖和拉曼成像（Raman spectrum Measurement & Raman Imaging）

拉曼成像光譜和光致發光PL（Raman Imaging &Photoluminescence Imaging ）

穩態熒光成像和瞬態熒光時壽命（fluorescence Lifetime Measurement &Imaging ）

光電流成像（Photocurrent Measurement and Imaging ）

全自動高精度共聚焦拉曼系統 AutoRam C

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